Reliability analysis of combinational circuits with the influences of noise and single-event transients - Télécom Paris Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Reliability analysis of combinational circuits with the influences of noise and single-event transients

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02286814

Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:13:30

Dernière modification le : jeudi 15 février 2024-11:29:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02286814 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02286814 , version 1

Citer

Kaikai Liu, Hao Cai, Ting An, Lirida Naviner, Jean-François Naviner, et al.. Reliability analysis of combinational circuits with the influences of noise and single-event transients. IEEE Symp. Defect and Fault Tolerance (DFT), Oct 2013, New York City, United States. ⟨hal-02286814⟩

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