Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://telecom-paris.hal.science/hal-02287226
Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:44:41
Dernière modification le : jeudi 15 février 2024-11:29:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02287226 , version 1
Citer
Hao Cai, You Wang, Lirida Naviner, Weisheng Zhao. Ultra wide voltage range consideration of reliability-aware STT magnetic flip-flop in 28nm FDSOI technology. 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Oct 2015, Toulouse, France. ⟨hal-02287226⟩
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