Caractérisation expérimentale de transistors de puissance pour l’optimisation de la linéarité - Télécom Paris Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Caractérisation expérimentale de transistors de puissance pour l’optimisation de la linéarité

Domaines

Electronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02411965

Soumis le : dimanche 15 décembre 2019-12:39:31

Dernière modification le : lundi 9 octobre 2023-12:49:44

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Dates et versions

hal-02411965 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02411965 , version 1

Citer

Ghalid Abib, Eric Bergeault, Reda Mohellebi, Souheil Bensmida, Bernard Huyart. Caractérisation expérimentale de transistors de puissance pour l’optimisation de la linéarité. 16émes journées nationales microondes, May 2009, Grenoble, France. ⟨hal-02411965⟩

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